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蔡司资深专家Dr. Dietrich Imkamp受邀在清华大学机械论坛进行了“工业4.0概念下的工业测量前景展望”学术报告

http://www.qctester.com/ 来源: 本站原创  浏览次数:707 发布时间:2017-9-27 QC检测仪器网
标签: 9月12日上午,清华大学机械学院论坛第三十期学术报告在清华大学的李兆基科技大楼如期举行。

   9月12日上午,清华大学机械学院论坛第三十期学术报告在清华大学的李兆基科技大楼如期举行。蔡司德国工业测量资深专家Dietrich Imkamp博士受清华大学邀请,为来自清华大学机械学院的众多教授、专家、研究员及研究生等进行了“工业4.0概念下的工业测量前景展望”学术报告。

   Dietrich Imkamp博士作为蔡司光学系统总监,负责光学测量机及传感器。除此之外,他还担任VDI/VDE测量和自动控制学会主席及欧洲计量创新与研究计划的评估专家。

   在“工业4.0概念下的工业测量前景展望”报告中,Dietrich Imkamp博士提出,无论是经济战略布局还是前沿学术发表,工业4.0的概念显著的影响着行业的方方面面。因此,针对新的工业生产环境下的测量技术,也必然受到影响,未来测量需要随之改变。

 

   基于VDI/VDE协会测量及自动控制(GMA)委员会在2011年发布的工业测量路线图2020,并结合蔡司工业测量发展的实践,Dietrich Imkamp博士对工业测量路线图进行了拓展和更新,使得在场听众更真切的了解到行业的发展情况。

 

   对于在报告中提到“如何制定/优化测量路线流程”,一同与会的学术专家及学者们针对“快速”、“精准”、“可靠”、“灵活”、“全面”的理念展开了热烈的讨论。 在最后的提问环节中,对于如何能够建立标准化的生产测量环境,大家也发表分享了各自的理解及看法,对在工业4.0环境下,如何提高工业生产下的测量技术有了更深的认识。  

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