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可定量化的双折射影像分析系统 LC-PolScope IM 提供了独一无二的方法进行双折射物质的量测与分析，LC-PolScope 影像系统帮你打开通往双折射率影像世界的大门，以全自动的可定量偏光显微技术，让你可在数秒内精确地计算CCD影像上每一画素的光相位延迟程度和方向性。 |
| 利用四张不同偏光状态下的灰皆影像所合成的全方位偏光图像。有别于传统偏光显微镜，LC-PolScope 使用专利液晶偏光技术，可以获得全世界最顶级的偏光影像，LC-PolScope 不需人为操作传动偏光器或样本，由其专利的影像分析运算，在获取偏光影像时，也无需考量偏光器或样本的方向性，一样能得到均匀亮度、详实且清晰的影像。 |
| IMAGE AND MEASURE | 观测及量测 |
| Optical Materials | 光学材料 |
| Glass | 玻璃 |
| Liquid Crystals | 液晶 |
| Polymers | 聚合物 |
| Silicon Wafers | 矽晶圆 |
| Thin Films | 薄膜 |
| Aluminum | 铝 |
| Graphite | 石墨 |
| ...... | 其他更多…… |
·专利液晶光学补偿片，可以在不需移动任何物件之下改变偏光状态，没有杂讯，也不会有影像偏移的现象。
·可定量计算每一画素上之光相位延迟资料
·容易使用、互动式操作软体
·快速影像颉取（每一影像少于三秒钟）
·光相位延迟灵敏度可达0.02nm
·软硬体系统整合完备