CP-II 扫描探针显微镜（SPM） 　　 CP-II SPM能够实现原子分辨率的扫描成像。CP-II扫描头使用ScanMaster 闭环线性扫描的专利技术，成像区域可达100×100微米。系统配备整套的高放大倍数的彩色光学成像系统和自动Z轴位移系统，方便用户快速、简便地进行区域定位、更换探针或样品。完善的标准模式和高级模式的操作指南，以及大量的可选附件和硬件确保了仪器的最大适应性。