高阻测定仪GZ-I

一、设备用途：

该设备是根据吉林大学PTC研究项目的需要而开发的用计算机控制PTC材料R-T曲线性能的仪器。
二、 主要技术参数
1. 可对Ф40mm以下或10×10×10mm3PTC样品进行R-T特性试验仪器电阻测量范围：0.01Ω-1015Ω±3%
2. 温度控制范围：室温-300℃
3. 分辨率：0.1℃
4. 控温方式：恒温±0.5℃
5. 匀速升温速率：0.5-5℃/分
6. 匀速升温精度：±1℃
7. 计算机自动PTD调节，曲线CRT显示，数据存储、打印。