SK2008金相显微测量分析系统

2008 金相显微测量分析系统包括数码金相显微镜及高级图像测量分析软件 . 系统集成了传统目视与现代影像功能，内置高亮度可持续调节的同轴光 . 高达4 00 X － 4000 X 的电子放大倍率和 40 X － 400 X 的光学放大倍率 , ± 300 纳米测量精度，使成像更加清晰可见 . 由赛克专业开发高级图像测量分析软件 , 能够快速精确的捕捉各种图像 , 具有图像测量、管理及处理等功能 . 产品适用于 IC 芯片、 PCB 覆铜板、液晶屏导电离子的检测和工矿、科研 , 教学等单位研究和观察等 . 尤其对于细小颗粒、粉末试样、大批金相和大面积硅片的检测 , 可得到完美的图像效果 . 本产品是经济普及型 亚纳米级测量产品 , 比同类产品具有优越的性价比 .

◆ 内置连续可调光源

◆ 4000X 电子放大率 , 高质素成像

◆ 配合机台使用卤素灯（视光栏和孔径光栏大小可调）

◆ 内置式高清晰 saike image card

◆ 纵、横可移动平台

◆ 采用松下原厂 CCD 摄像头

◆ 外设独特的目镜

◆ 适应明视场、暗视场

◆ SKD －CL2软件系统可进行各种图像测量和处理

◆ 支持多种格式 , 可进行图像存储、编辑、打印、发送、格式化等