表面检测技术国际峰会

     ISIS.ASIA 2010表面检测技术国际峰会将于2010年3月4～5日在武汉召开。本届峰会的主题是“全面了解金属表面检测的最新技术”，会议将深入探讨国际最先进的应用于金属板材的自动表面检测技术。会议由武汉钢铁集团公司主办，将有来自德国Parsytec公司、美国UNILUX公司等知名表面检测厂商的代表出席。

     表面检测技术国际峰会是两年一届的综合性表面检测技术研讨会，上一届ISIS峰会于2008年在荷兰阿姆斯特丹举办，吸引了如英国康力斯（Corus）集团公司、德国Parsytec公司和西门子VAI公司等众多业界领先的金属板材表面检测系统的供应商和金属加工厂家出席，来自30多个国家和地区的250余位参会代表到场，并有30位业界技术专家在会上发言。

     在科学技术日新月异的今天，科技进步在行业发展中发挥着越来越大的作用，钢铁工艺和材料也朝着低能耗、低成本、高质量的方向发展，从而对金属表面的质量控制提出了更高的要求和任务。本次峰会将结合用户和市场，为钢铁界的专家、科技人员和国内外同行提供场所和平台，交流最新的金属表面检测技术，探求其发展方向。
表面检测技术国际峰会(ISIS.ASIA 2010)组织委员会由国际钢铁行业享有盛誉的专家组成，组委会诚邀业内专家将自己研究和实践的成果与经验同大家分享。如果您有意在ISIS.ASIA 2010会议上发表您最新的科研或应用成果，请阅读下面的有关事项，并提供演讲摘要。我们热诚欢迎资深表面检测专家、研究工程师和应用工程师在本次会议上发言。

1.  演讲范围
在下列领域研究、开发或应用金属板材表面检测系统：
钢铁
有色金属

2.  演讲主题
技术应用类
系统的配置和调试（成功经验）
系统的校准（校准的原则和如何确定产品的检测标准）
产品检测和分等的实际应用（可靠性、可持续性、选用或新研发的计量工具）
测量路径（顺向或逆向测量的实例和效果）
数据的应用:
o从数据处理、数据挖掘到统计分析
o如何建立数据库
o统计评估
操作者知识的重要性和判断原则
特殊表面的检测（纹理、颜色）
盘卷跟踪
盘卷分级（自动或非自动）
提供给客户的数据
缺陷标记的增值效应
不同厂商方案的比较
表面检测系统现在和未来的作用
学图像（灰度图像）识别满意度的发展（全平面质量）
般钢铁板材的表面质量
粗糙度测量
微观和宏观结构
比色法
数据处理
油层/涂层

科研类
表面检测技术的发展趋势
更多特征的价值和必要性
光学图像（灰度图像）识别满意度的发展（全平面质量）
模式识别的作用
更加可靠和可持续发展的检测与分级的解决方案
正在开展的研究课题