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AI服务器催生创新变革,电子行业迎来新一轮产品质量挑战

http://www.qctester.com/ 来源: 本站原创  浏览次数:1728 发布时间:2024-4-22 QC检测仪器网
标签: 在AI需求暴增、5G升级周期和汽车智能电动化等因素的推动下,全球电子市场进入新一轮的增长期,尤其是在通信电子、消费电子和汽车电子等领域。

     在AI需求暴增、5G升级周期和汽车智能电动化等因素的推动下,全球电子市场进入新一轮的增长期,尤其是在通信电子、消费电子和汽车电子等领域。需求增长促使上游产能升级的同时,也带来了制造和设计上更严格的标准,各种电子零部件可以忍受的公差已经从毫米级降低至纳米级。

    在这一背景下,5月22日蔡司将举办“蔡司,‘质’敬明天” ZEISS Quality Innovation Days中国场在线峰会电子行业主题日活动,与来自赫比集团,TE,精科科技等知名企业的意见领袖和技术专家一起,探讨电子行业在质量控制上的痛点,并分享与展示电子行业创新质量解决方案。

    从今年的世界计量日5月20日起,为期五天的“蔡司,‘质’敬明天” ZEISS Quality Innovation Days中国场在线峰会将以新能源汽车、医疗、电子、电力与能源、压铸五个行业主题日依次开启。进入蔡司官网或蔡司工业质量解决方案微信公众号即可参与,期待您一同加入质量届盛会。

AI驱动下 高多层PCB板的检测挑战

    随着GPU、NPU等各类AI加速器在数据中心的普及,为了保证算力可拓展性和高速通信,高多层PCB板被广泛使用,且层数逐年递增,如今AI服务器的PCB层数已经达到20层以上。在云服务厂商和数据中心持续拓展AI算力的趋势下,高多层PCB板不仅迎来海量订单,也对PCB工艺提出了更高的要求。

    对于高多层PCB板而言,其本身生产技术难度较大,相比常规的PCB板而言,板件更厚、层数更多、线路密度更高、过孔更密集,层间对准度和可靠性要求也更高。这也就导致了为了保证高多层PCB板的良率,就必须借助显微镜来检查电路板的表面缺陷。蔡司提供了电子显微镜的解决方案,可以实现微米级/纳米级缺陷的检测,并完成PCB板盲孔深度、镀层高度、表面粗糙度等参数的测量。 与此同时,随着AI服务器PCB板的面积越来越大,对检测设备所能支持的检测件尺寸大小也提出了更高的要求。蔡司也将在“蔡司,‘质’敬明天”在线峰会电子行业主题日推出新品检测设备,可以轻易实现大尺寸AI服务器PCB板的表面缺陷检测。

高速连接器的质量保障

    在数据中心,高速通信也推动了连接器迈入新一轮的技术革新。随着以太网朝着800G、1.6T迈进,SerDes最高速度从56G发展至高速以太网所需的224G。此外,由于数据中心基础设施之间密度持续增高,设备内部部件间的连接亦越来越紧凑,连接器的体积要求也越来越小巧。为了提高网络的连接密度,充分发挥AI硬件算力的效能,破解互连瓶颈的关键就在于高速连接器。

     从初步的铸模到最后的组装,连接器制造商需要在做到批量筛选的同时,实现更加精确的测量和尺寸质量管控。在新品连接器的模具开发阶段,借助蔡司的计量型工业CT扫描产品,可以通过逆向工程减少修模时间。为确保连接器引脚对齐且尺寸符合标准,可以凭借蔡司三坐标测量机有效管控其尺寸形位公差。

智能手机发力长焦,更高的光学模组精度要求

     随着智能手机市场趋于饱和,绝大多数厂商为了进一步改善用户换机需求,纷纷在摄像头上开展了差异化设计,比如长焦和超长焦摄像头。更长焦距的镜头模组往往意味着长度增加,如此一来放入轻薄的手机内部挑战性更大,尤其是折叠屏手机。

     以新一代旗舰智能手机搭载的潜望式长焦为例,在有限的空间内采用多个反射镜组来延长光路,实现长焦效果。至于防抖和自动对焦,则是依靠OIS光学防抖组件和自动对焦结构件左右和前后移动CMOS实现。在小尺寸CMOS的摄像头模组内,哪怕是轻微的移动误差都会导致图像质量的降低,这对测量系统的精度、分辨率和重复性都提出了极高的要求。

     面对这一检测挑战,蔡司PRISIMO三坐标测量机和CALYPSO提供了完整的解决方案,通过模拟结构件内移动的陶瓷滚珠移动轨迹,来准确反映实际装配后的尺寸。更多电子行业创新质量方案分享,尽在“蔡司,‘质’敬明天”在线峰会。

Pancake VR设备的精密装配

     新兴XR设备的光学模组,同样对装配提出了更高的要求。以目前主流的Pancake VR头显设备为例,对比前几代的菲涅尔结构而言,Pancake架构显著缩减了设备厚度,并采用了多层光学薄膜产品,借助各种偏光片实现光路折叠的方式来延长光路。正因如此,光学模组之间的组装和对齐至关重要,否则就会因为误差影响成像质量。不仅如此,由于Pancake光学模组采用了多材料混合部件,传统的CT扫描很可能会产生伪影,影响测量结果。

      蔡司提供的工业CT测量机提供高精度和高分辨率的扫描,快速检查镜片与镜头边缘的间隙以及透镜多层光学膜的厚度,以不破坏样品的方式对组装好的Pancake光学模组进行准确的测量。配合蔡司scatterControl模块中的AMMAR(高级混合材料伪影减少),可以有效减少测量结果中的伪影。

     XR设备还有一类常常被忽略的配件,也就是手柄等输入设备,这类设备为了实现人体工学设计,减轻长时间手持的疲劳感,客户在设计这类设备时对于表面轮廓的平整度、间隙和重复性要求较高,所以需要精确的结构件轮廓检测。

    与此同时,这类设备为了轻便考虑,外壁通常比较薄,更容易出现形变和偏差。所以在缺陷检测中,采用非接触式的三坐标测量仪可以避免设备受力的同时,不落下任何一处死角。蔡司METROTOM CT系列提供了优秀的精度,同时大大减少了扫描时间,提高了检测效率。

     蔡司凭借其在电子行业领域的丰富专业知识,为客户提供可靠的解决方案。通过高精度硬件与操作便捷的软件,不仅能确保高度的可信度和可靠性,且针对性的测量与评估过程提升了效率、生产力、可比性和重复性。这些关键因素帮助客户取得成功。

    进入蔡司官网或蔡司工业质量解决方案微信公众号,即可报名参与本次5月22“蔡司,‘质’敬明天” ZEISS Quality Innovation Days中国场在线峰会电子行业主题日,期待您一同参与,一并探讨电子产品质量保障的创新解决方案。

 

“蔡司,‘质’敬明天”电子行业主题日日程

 

主题演讲

激发下一代电子产品质量保证的革新

客户洞见-分会场

新一代PCB类载板(SLP)的发展趋势和质量保证

自由曲面结构部件:质量保证解决方案新趋势

电子产品行业跨境商业模式

了解电子壳体检测技术

新一代软件平台赋能质量保证

新应用新产品

把握AI服务器应用及全球电子产品制造商的质量保证流程

总结

塑造电子行业质量保证的未来

 

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