8月26日，由上海市科学技术协会指导、荣格工业传媒联合上海机械工程学会共同主办的“2020高效加工与先进制造发展峰会”在上海开幕。在同期举办的“2020金属加工行业-荣格技术创新奖”的颁奖典礼上蔡司关联清洁度分析- CAPA荣获测量工具及系统类别技术创新奖。

蔡司CAPA技术有何创新之处？设计背景是怎样的？面对市场高精、高速、高效的加工需求又如何满足？

全自动颗粒定位、分析的方案，大大提高工作效率

传统光学显微镜分析方法分析速度快，但无法提供颗粒的成份信息，从而无法进行颗粒来源查找的工作，只能作为一种质量控制分析手段。扫描电子显微镜能够进行颗粒成份分析，但滤膜上的颗粒数量多（成千上万个颗粒）、尺寸小（微米级别），在扫描电镜下如何查找部分感兴趣的颗粒进行成份分析，成为一个难题。

通常的解决办法是纯人工的方法，将微小的颗粒一个一个的粘在导电胶带上进行分析，导致分析效率很低。在此背景下蔡司关联清洁度分析CAPA给出了全自动颗粒定位、分析的方案，从而极大的提高工作效率。

颗粒度分析也称为清洁度分析，在汽车、航空器、医疗设备等领域都需要使用洁净度很高的零件。在分析这些零件的清洁度之前，需要通过某种方式对零件进行清洗（压力冲洗、超声波）。污染物颗粒会被从零件上清洗下来，进入清洗溶剂中。这些溶剂将被过滤，所有颗粒会被过滤到滤膜上，然后进行分析。清洁度分析是在ISO 16232 和VDA 19 等工业标准下执行的。显微镜自动颗粒计数分析法现已成为清洁度滤膜分析的主流方法。

蔡司显微镜覆盖了从光学显微镜到扫描电子显微镜各个系列的产品，针对工业上的清洁度分析，不论是使用光学显微镜，还是使用电子显微镜，以往都有各自单独的分析解决方案，基于此蔡司又新推出了关联清洁度分析产品CAPA的分析解决方案。

关联清洁度分析产品CAPA使用蔡司光学显微镜依照 ISO 16232 标准执行颗粒度分析，能够提供颗粒的数量、大小分布、形貌和颜色、以及鉴别金属与非金属等信息，同时获取所有颗粒的位置坐标信息，将样品转移到蔡司扫描电子显微镜（SEM）下能够实现快速自动颗粒定位，从而实现对感兴趣颗粒的快速自动能谱元素分析，并自动按照成份进行归类，将光学和电子显微镜的全部分析结果整合在一份报告中。在更短时间内获取更丰富的信息，光学与电子显微镜联用技术将充分发挥两者的优势，实现了对产品清洁度分析从质量控制进一步向查找颗粒来源更高效的解决方案。