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蔡司新品发布|ZEISS SPECTRUM——跨越接触与光学,升级扫描新体验

http://www.qctester.com/ 来源: 本站原创  浏览次数:5063 发布时间:2025-4-28 QC检测仪器网

摘要:2025 年 4 月 21 日至 26 日,第十九届中国国际机床展览会(CIMT2025)在中国国际展览中心(顺义馆)及新启用的首都国际会展中心盛大举行。在这场行业盛会中,蔡司以 “创新驱动高效” 为核心主题,并携手一系列新产品惊艳亮相。

 

 

在面向制造业的精密测量领域,蔡司推出全新一代ZEISS SPECTRUM三坐标测量机。这款设备将接触式与光学测量技术完美融合,以颠覆性扫描体验满足多元化检测需求,以前沿的柔性解决方案重塑高效测量流程。

 

【SPECTRUM产品视频,详情请见文件夹】

 

接触式与激光扫描无缝集成

ZEISS SPECTRUM无缝集成了VAST XXT接触式测量和ZEISS LineScan One激光扫描技术,单台设备即可实现工件全面检测,无论是标准几何形状还是复杂表面轮廓,ZEISS SPECTRUM都能轻松应对,在确保精度的同时显著提升检测效率。

SoftTouch Mode柔性零件精准快速测量

创新的 SoftTouch Mode 配备新一代高灵敏度传感器 VAST XXT TL1,将测量力降至传统模式的三分之一,使 ZEISS SPECTRUM 能够精准捕捉细微结构变化,尤其适用于微小结构及易变形零件的高精度测量。该模式还支持快速测量,单点测量时间最多可节省 40%,让用户能够根据检测任务需求,在高效与高精度测量之间灵活切换。

灵活高效设计全角度覆盖检测

ZEISS SPECTRUM 搭载新一代旋转测座,具备 5 度精细的旋转步距角,A轴与B轴均可实现360 度自由旋转,能够完成多角度精准定位,全面覆盖工件的复杂曲面。搭配RDS-CAA快速校准技术,只需一次校准即可覆盖全角度位置,进而确保了测量过程的灵活性与高效性。这种创新设计让ZEISS SPECTRUM 能够迅速适应多样化的测量任务,为用户提供操作便利性。

紧凑版测头设计测量可用空间大

创新的VAST XXT TL3 紧凑型测头设计,通过结构优化,突破传统测头的空间局限。其紧凑版的造型设计拓展了机器的可用测量范围,相较于常规测头,能够深入更狭窄、复杂的区域进行测量作业,提升测量空间的整体使用率。

硬件配置保障测量精度稳定

ZEISS SPECTRUM 沿用零膨胀玻璃陶瓷光栅系统,凭借材料本身特性,无需进行温度补偿即可维持高精度测量,从根源上消除温度波动对光栅系统的影响。同时,光栅系统采用悬浮式安装设计,有效规避导轨及桥架变形可能带来的影响,进一步保障测量精度在复杂工况下的稳定性。

“最好的校正是不需要校正。”ZEISS SPECTRUM 通过可靠的质量保证确保产品符合严格的质量标准。

凭借其卓越的灵活性、可靠性、高效性,ZEISS SPECTRUM将成为推动制造业进步的重要力量,帮助客户实现生产力的飞跃,迎接精准制造的新时代。

产品样册链接:

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往期推荐:

蔡司CIMT2025 | 新品天团第二位成员新一代ZEISS SPECTRUM闪耀登场,精度x灵活双飞跃!

点击链接:https://mp.weixin.qq.com/s/rLYMhiP6zJ5fiUGl2BJPyQ

 

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