新型无损检测及测量技术交流会 会议网址：http://www.dellon.net/news/news_show.aspx?id=75 时间：2010年06月29日 地点：北京
2010年07月02日 上海
2010年07月08日 西安
2010年07月12日 成都
（本次交流会国内共分四站，相关人士可根据实际情况选择参加）
主办单位 德国联合电子有限公司 德国不来梅光学研究所
北京德朗检视科技有限公司 参加单位（部分） 中国运载火箭技术研究院 北京卫星制造厂
中航工业北京航空材料研究院 中航工业北京航空制造工程研究院
哈飞集团无损检测中心 沈飞集团理化测试中心
成飞集团无损检测中心 西飞集团无损检测中心 沈阳黎明航空发动机集团
中国第一飞机设计研究院 中国飞行实验研究院
北京航空航天大学 北京理工大学光电学院
中科院南京光学技术研究所
中国计量科学研究院
会议简介 新型无损检测技术及测量技术交流会主要是引进和交流世界先进的高精度光学检测测量技术，针对航空航天、大学光学专业及精密机械专业、计量院所、铁路船舶设计、模具加工等领域在设计、研发、制造过程中的材料探伤及三维面型测量，介绍德国联合电子公司（VEW）的高灵敏度条纹反射测量系统、双目立体照相机、3D照相机、激光散斑剪切干涉测量系统等高精度光学检测仪器。
德国联合电子公司（VEW）与德国不莱梅光学研究所（BIAS）合作开发出多项世界领先技术，已成功应用于空中客车公司、欧洲电力能源公司、西门子公司、克虏伯公司等大型国际集团。其中激光散斑剪切干涉技术是一种快速无损探伤技术，该技术可广泛应用于航空航天工业无损检测（NDT）领域；条纹反射测量技术是一种高灵敏，非相干的光学全场测量技术，主要用于对任何材质的光洁表面进行高精度的三维坐标测量，精度可达纳米量级；双目视觉是一种被动光学三维传感技术，在此基础上开发的3D照相机和双目立体照相机主要用于对任何材质的漫反射表面进行高精度的三维坐标测量，该系统已应用于飞机及航天器外表形变评估、大型加工部件的形貌测量、汽车复杂部件三维测量等领域。
本次交流会将充分展示光学无损检测设备及测量设备领域的世界最新技术及发展趋势，促进中欧间的技术交流，提升国内装备制造业的技术水平。现诚邀国内无损检测及质量控制的相关专业人士，欢迎您参加并提出您宝贵的意见和建议！
参会办法
请于2010年06月20日之前将邀请函回执表格填写清楚，并传回本次会议主办单位，主办单位将根据回执中的人员的姓名及人数免费安排与会者会议期间的食宿。参会人员的往返差旅费自行承担。公司精力所限，不能一一将本次邀请通知到位，欢迎相关专业人士来电详询并索取相关参会资料！
联系电话 010-67534305、87576337、87576339
同期举办：工业控制领域重新设计技术交流会 参加单位
中国华能集团公司 中国大唐集团公司 中国华电集团公司
中国国电集团公司 中国电力投资集团公司
国投电力 国华电力 华润电力 中广核
国家电网公司 中国南方电网有限责任公司
会议简介 新型无损检测技术及测量技术交流会主要是引进和交流世界先进的工业控制领域重新设计技术，针对电力系统、公共交通、国防工业及工程检测领域在老系统中过时和功能缺失的原始组件进行重新设计和开发，介绍德国联合电子公司（VEW）的几乎所有涉及Simatic, Iskamatic, Teleperm, Decontrol, Contronic, Transicont等家族系统以及其他的元器组件的重新设计方案。
德国联合电子公司（VEW）从1980年起自主开发出多项重新设计方案，已成功应用于欧洲电力能源公司、空中客车公司、西门子公司、克虏伯公司等大型国际集团。从1994年对RWE电力工程公司的的烟气脱硫设备的数据采集系统(CMR系统)的重新设计，到近期适用于Frimmersdorf发电厂的Contronic 3l过程控制系统的PMM30硬盘及相应的PMK硬盘耦合器的重新设计，及对EON公司在Weser河下段核电站属于Transicont系统的阈值检测器ARB13的 重新设计，对Evonik Steag公司的Voerde发电厂项目中西门子公司特殊开发的IC集成电路器S132、S134、S135的重新设计，VEW公司在电力行业积累了丰富的经验。
本次交流会将充分展示重新设计领域的可靠技术及完美方案，促进中欧间的技术交流，提升国内基础行业的技术水平。现诚邀国内相关专业人士，欢迎您参加并提出您宝贵的意见和建议！（参加办法同上！）
会议网址：http://www.dellon.net/news/news_show.aspx?id=75
联系方式：
电话总机：010-67534305，87576337，87576339
刘小姐 分机：802
井小姐 分机：804
传 真：010-67534405