大家好，今天要给大家分享的是在使用蔡司三维光学扫描仪时，如何通过ZEISS INSPECT软件的 “最佳拟合算法”，借助物体自身充足的表面特征数据，替代参考点完成定位与数据整合。

 一 为什么需要无参考点扫描？

使用蔡司三维光学系统 ATOS Q 扫描时，会遇到无法使用参考点的场景，如物体表面特殊、工件结构不允许粘贴，或现场需紧急扫描（无时间布置）。此时可选择无参考点扫描，其核心是借助 ZEISS INSPECT 软件的 “最佳拟合算法”，用物体自身充足的表面特征数据替代参考点，完成定位与数据整合。

 二 无参考点扫描的具体操作步骤

01首次扫描：采集基础表面数据

使用ATOS Q扫描仪直接对目标物体进行首次扫描，无需提前布置任何参考点。此次扫描的核心目的是获取物体的基础表面轮廓数据，为后续定位提供 “特征基准”。

02数据清理：优化基础扫描结果

完成首次扫描后，对原始数据进行清理 —— 去除背景数据、扫描噪点等无效数据，保留物体的核心表面特征（如边缘、凹槽、凸起等辨识度高的结构），确保数据有效性。

03再次扫描：依托最佳拟合自动定向

基于清理后的首次扫描数据，再次扫描。此时 ZEISS INSPECT 软件会自动通过 “最佳拟合算法”，将新扫描数据与首次扫描的表面特征进行精准匹配，完成自动定向，无需手动调整基准。

04正反面扫描：合并不同角度数据

若需围绕物体旋转，采集两侧或多面数据，可重复上述流程：每完成一组扫描后，通过软件的 “最佳拟合” 功能选择对应参考数据（如前一次扫描的有效表面特征），系统会自动计算坐标转换关系，实现多组数据的无缝合并（具体操作可参考配套演示视频）。

注意事项

常规扫描中，参考点的核心作用是定位测量基准：既能识别设备移动轨迹、验证系统校准精度，也能助力多组测量数据快速完成坐标转换，让 ZEISS INSPECT 软件通过明确基准简化计算、提升数据整合效率。此时，建议使用扫描支架，避免直接在工件粘贴参考点。或者，扫描前完成设备校准，扫描中保持设备稳定，减少剧烈移动对数据准确性的影响。

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