条纹投影技术是一种非相干的光学全 场测量技术 。在此基础上开发的3D照相机主要用于对任何材质的漫反射表 面进行高精度的三维坐标测量。该系统主要由一个LCD投影单元和一 个高分辨率的CCD照相机组成, 连同电 子控制单元一起被集成于一个紧凑的 铝质外壳中。测量时LCD上 显示由计 算机生成的条纹模式, 由光学系统将条 纹投影到物体表面, CCD照相机则从另一个方向观察被测物体表面由于形状 的调制作用而变形的 条纹图像。采用 先进的条纹相移技术, 经条纹位相信息 解调并利用系统的几何关系, 就可直接 得到物体面形的三维坐标分布。
得益于VEW公司最新开发的光学成像设备校准技术, 3D照相机采用短焦距的 物镜镜头, 可对张角超过90度的范围进行测量。同时为了尽量减少光学系统 的遮挡效应, 投影和成像系统采用了近平行光轴设计。由于投影单元的高亮度, 在横向达2x2米的范围内仍然有足够的照明度。系统的纵向测量范围为最 近离照相机20厘米到最远4米的距离。在离照相机100厘米的工作距离上, 系 统的坐标分辨率可达0.1毫米。
3D照相机采用了精密的几何校准 技术, 对合适的物体表面, 其 三维 坐标测量精度也可达0.1毫米。校 准工具可随照相机一起提供给用户, 使其可随时进行系统几何校准。目前, 该系统已应用于飞机外表, 形变评估, 建筑材料的形貌测量, 汽车部件三维测量等领域。
技术参数 : 铝质外壳: 200x220x140mm 外加三角稳定支架和连接适配器
测量范围(对角): 200...1500mm
坐标分辨率: 深度方向: 测量范围 /10000, 横向: 测量范围 / CCD像素
测量精度: >0.1mm (根据物体表面情况和测量范围而不同)
测量时间: 1s...600s (根据期望的分辨率&精度, 用户可调)
投影单元 :
单像素可寻址位:12Bit
照相机 :
灰度级: 8Bit
像素值: 1024 x 768 Pixel
接口: DVI
光源: UHP灯 160W
物镜: F 12.5
像素值: 1392x1040 (1600x1200) Pixel
接口: FireWire
物镜: F 6.5
投影和照相机物镜根据用户要求可选。
该系统由VEW与不来梅应用光学研究所（BIAS）合作开发
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