Olympus欣然宣布一款将X射线衍射（XRD）技术与X射线荧光（XRF）技术结合在一起使用的新型台式分析仪的问世。BTX Profiler所使用的创新型XRD技术是美国国家航空航天局成功的火星科学实验室项目中的“好奇”号漫游者曾经使用过的技术，其利用的另一种技术是Olympus的X射线分析仪所使用的广受赞誉、优质实用的XRF技术。BTX Profiler将这两种技术结合在一起使用，在结构和元素方面对材料进行组合成份分析，不仅可减少操作费用、空间和时间，还可使数据与结果得到天衣无缝的整合。 

    BTX Profiler减少了常规粉末衍射系统常见的不足之处。其封闭耦合传输几何学方法可使用户在分析时使用低能量X射线源以及少量的样件。复杂的样件控制技术还包含一个已获得专利的震动系统，这个系统可以在固定的样件池中允许随机晶体方向。具有“智能”能量区分功能的CCD探测器可提供图表式二维衍射图案，或环形图案，且与常规XRD探测器相比，可以更迅速地获得更多的数据。 

    BTX Profiler的能量色散XRF技术包含以下功能：袖珍X射线管的可选优化光束路径、专用过滤器、可优化分辨率和检出限的大区域硅漂移探测器（SDD），以及应用于样件的封闭耦合几何学方法，从而可探测出种类极多的元素并测量元素各种水平的含量。 

    所有这些功能的组合不仅可减少操作的费用、空间和测量时间，还可进行更快、更精确的数据分析。包含能量、地球化学、制药、催化剂、法医学及教育在内的多种工业领域，都是BTX Profiler发挥无损检测性能的用武之地。 

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