分享按钮
QC检测仪器网|www.qctester.com
首页: 产品中心: 资讯频道: 展会频道: 市场研究: 供求信息: 新品介绍: 企业名录: 技术文章: 检测机构
专家解答: 学会协会: 行业资料: 电子样本: 期刊书库: 资料下载: English: QC视频: QC杂志: QC访谈: 邮寄现场
注册会员 会员中心
登陆企业
仪器搜索
热门关键字: 量仪量具  无损检测  物理测试  力学测试  材料试验  光学仪器  设备诊断监测  表面处理检测  环境检测  化学分析  实验室仪器  仪表类  超声波探伤仪
您现在的位置:首页 >  技术文章  > 新型波前测量方法在高功率激光装置中的应用

新型波前测量方法在高功率激光装置中的应用

http://www.qctester.com/ 来源: 本站原创  浏览次数:187 发布时间:2017-9-27 QC检测仪器网

随着高功率激光装置的发展,人们对装置输出能力和光束质量的要求越来越高,同时也对光场测量提出了新的要求。

目前运用的直接成像法只能在有限固定平面上获得光束近场和远场的强度分布;哈特曼传感器也只能测量低频波前信息,精密的中高频波前信息无法获取;而激光传输过程中,三倍频损伤、多波长效应等也使传统的测量方法捉襟见肘。所以一直没有合适的技术能在线以足够高的精度同时测量出高功率激光束的强度和相位,激光束光场的全面在线检测一直没能实现。

高功率激光物理联合实验室基于多年的技术积累,提出一种新的波前测量方法——相干调制成像(CMI)方法。

相干调制成像(CMI)方法

在原理上不同于现有的测量技术,相干调制成像(CMI)方法利用一块结构已知、高度随机分布的相位板对待测波前进行相位调制,由CCD记录下单幅衍射光斑,然后通过迭代算法对待测光的振幅和相位同时进行重建。重建的思路是:将猜测的入射光场在入射窗面及CCD面之间来回传输,并分别在两个面上对振幅施加约束条件,使计算光场逐步收敛于真实值。那如何确保收敛所得的即为真实的复振幅呢?


新型波前测量方法在高功率激光装置中的应用600

图 CMI法波前测量实物图
 

从空域上来看,随机相位板的强散射作用使待测波前的点与点之间相互关联,因而待测波前上的些许差异都将在CCD采集的衍射斑中产生很大差别(如下图所示)。因此通过衍射光斑强度和入射窗面空域的限制,最终计算光场只能收敛于真实光场。

新型波前测量方法在高功率激光装置中的应用844


图 不同入射波前在衍射斑中产生的差异
 

从频域上解释,随机分布的相位板频谱较宽,由于其与入射光频谱的作用为一卷积过程。相位板的频谱范围越宽,所能构建的方程就越多,当方程数大于未知数个数(入射光频谱)时,可求得唯一解。

简而言之,随机相位板的强调制作用加强了对现有空域及频域的限制,增强了对波前的筛选能力,从而能够获得真实的振幅和相位。获得待测波前的真实分布后,便可进一步提取出所需的近远场强度分布、光束指向、能量聚集度等信息,实现对激光束的全面诊断。

CMI方法的应用

利用CMI方法研制的仪器具有结构小巧、测量速度快和精度高等诸多优点,可放置于驱动器内任何位置对光束波前进行实时精密检测。它克服了现有直接成像法和哈特曼传感器的不足,解决了只能通过干涉仪离线测量中高空间频率的难题。目前该方法已成功在XXX国家激光装置上进行了实验验证,测量出了单次脉冲的近远场光场分布,实现了500μm的近场分辨率。


新型波前测量方法在高功率激光装置中的应用1363

图 NLF光场测量结果。(a)近场光强;(b)近场相位;(c)远场光强;(d)记录光斑


  作为一种新型的波前测量技术,CMI方法同样适用于光学元件的检测,添加光源及准直模块后即能实现干涉仪的功能,测量精度达到0.05λ。考虑到其较高的测量动态范围、对环境稳定性要求低、不需要参考光束等特点,该技术在元件测量领域具有很好的发展前景。另外,基于原理性的突破,CMI方法也有望在交叉学科如显微成像、等离子状态测量等领域创新应用。


新型波前测量方法在高功率激光装置中的应用1693

图 CMI光学元件测量仪器效果图及测量结果
 

CMI波前测量仪在国防工程和民用领域有着广泛的应用前景,并可以打破发达国家在大型光学精密测量仪器领域的技术垄断。日前该项目荣获首届“中国军民两用技术创新应用大赛”金奖,并获得评委会的高度评价。高功率激光物理联合室对CMI波前测量仪的未来充满信心。

 

作者:钟光哲

 相关信息

意见箱:
       
如果您对我们的稿件有什么建议或意见,请发送意见至qctester@126.com(注明网络部:建议或意见),或拨打电话:010-64385345转网络部;如果您的建设或意见被采纳,您将会收到我们送出的一份意见的惊喜!

①凡本网注明“来源:QC检测仪器网”之内容,版权属于QC检测仪器网,未经本网授权不得转载、摘编或以其它方式使用。
②来源未填写“QC检测仪器网”之内容,均由会员发布或转载自其它媒体,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接或连带责任。如从本网下载使用,必须保留本网注明的“稿件来源”,并自负版权等相关责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。

热点新闻 行业资讯 政策法规
市场研究 行业资料 技术讲座
展会知识 战略合作 技术标准
展会资讯 更多 
智能制造时代下的工业设计沙龙
数字化工厂应用技术解决方案交流会
AHTE 2018上海国际工业装配展
AMTS 2018上海国际汽车装备展
2017广州充电桩展暨2017广州电
传感器市场及应用展望
来2018郑州工博会,领略智能制造魅
人工智能产业飙升52亿,3E·北京国
CME同期活动:线上研修班第四讲开课
中国铸造协会上榜商务部第一批展览业重
矩阵
行业资讯 更多 
紧随科技创新发展战略方向 加速仪器领
南宁三岸大桥3名检测员坠江 仍在搜救
科技部重大科学仪器专项“核电堆芯运行
国际组织报告称中国在全球制造业中的地
依利特等10家仪器厂商上榜国家知识产
探测全球大气的“超级慧眼”
2018全球科技产业发展趋势
5G试验设备与仪器将正式进行商用测试
中国4500米载人深潜器完成检验
CAPAS持续服务西南汽车市场,高效
淮安市获批国家级仪器仪表特色产业基地
环境监测市场不能不火的原因
热销仪器
检测仪器 检验仪器 测量仪器 测试仪器 无损检测 无损探伤 材料检测 材料试验 检测材料 几何量仪器
邮箱:(E-mail)QCtester#126.com   备案号: 京公网安备11010502024614
北京考斯泰仪器信息有限公司   电  话:(Tel)010-58440895 /   
Copyright © 2009 QCtester.com Inc.All Rights Reserved. GoogleSitemap QC检测仪器网 版权所有
检测仪器备案信息  检测仪器行业  测量仪器  检测网